
羅德和施瓦茨為在片器件的完整射頻性能表征提供了測(cè)試解決方案Memsic代理結(jié)合羅德和施瓦茨的實(shí)力R&S ZNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和FormFactor先進(jìn)的工程探針臺(tái)系統(tǒng)。半導(dǎo)體制造商可以在產(chǎn)品開發(fā)、認(rèn)證和生產(chǎn)階段進(jìn)行可靠和可重復(fù)的測(cè)試。
芯片采購網(wǎng)專注于整合國內(nèi)外授權(quán)IC代理商現(xiàn)貨資源,芯片庫存實(shí)時(shí)查詢,行業(yè)價(jià)格合理,采購方便IC芯片,國內(nèi)專業(yè)芯片采購平臺(tái)。

整個(gè)在片測(cè)量工作原因R&S ZNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和FormFactor SUMMIT200探針臺(tái)系統(tǒng)一起完成。
5G 在優(yōu)化設(shè)備效率的同時(shí),射頻前端設(shè)計(jì)師需要確保適當(dāng)?shù)脑O(shè)備輸出功率和射頻帶寬。驗(yàn)證射頻設(shè)計(jì)是設(shè)計(jì)過程中的一個(gè)重要階段,盡快獲得相關(guān)設(shè)計(jì)反饋和評(píng)估DUT晶圓級(jí)的功能和性能。晶圓環(huán)境對(duì) DUT測(cè)試特性所需的測(cè)量系統(tǒng)包括矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)、探針臺(tái)、RF探針、電纜或適配器、專用校準(zhǔn)方法DUT或相關(guān)校準(zhǔn)片等。
羅德和施瓦茨推出,以滿足這些重要的測(cè)量要求R&S ZNA67 GHz上述擴(kuò)頻模塊。分析儀可以表示同軸和波導(dǎo)級(jí)的所有射頻特性參數(shù)。FormFactor該系統(tǒng)包括熱控、高頻探針、探針定位器和校準(zhǔn)工具決,包括熱控、高頻探針、探針定位器和校準(zhǔn)工具。FormFactor WinCal XE校準(zhǔn)軟件支持整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的校準(zhǔn),包括R&S ZNA的校準(zhǔn)。
完全校準(zhǔn)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)后,用戶可以使用它R&S ZNA所有測(cè)試功能。通用S參數(shù)測(cè)試可以表示濾波器和有源設(shè)備的特性;失真、增益和交調(diào)測(cè)試可以驗(yàn)證功率放大器的特性。該組合測(cè)試系統(tǒng)還可以測(cè)量混頻器工作帶寬中的變頻相位。完全校準(zhǔn)的測(cè)試系統(tǒng)允許用戶直接從VNA由于校準(zhǔn)數(shù)據(jù)已直接應(yīng)用于所有測(cè)試結(jié)果,因此無需進(jìn)行后處理VNA之中。羅德和施瓦茨的擴(kuò)頻模塊擴(kuò)展到亞太赫茲頻率,如D波段,目前是6G關(guān)鍵頻段的研究。擴(kuò)頻模塊集成到探針臺(tái)中,以確保最短的連接和理想的動(dòng)態(tài)范圍,避免電纜連接到探針尖端造成的額外損失。
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