產(chǎn)品參考圖片
- 制造廠商：TI
- 類別封裝：邏輯 - 專用邏輯，產(chǎn)品封裝：24-SOIC（0.295，7.50mm 寬）
- 技術(shù)參數(shù)：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
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SN74BCT8373ADW 技術(shù)參數(shù)詳情：
- 制造商產(chǎn)品型號：SN74BCT8373ADW
- 制造商：TI公司（德州儀器，Texas Instruments）
- 描述：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
- 產(chǎn)品系列：邏輯 - 專用邏輯
- 包裝：管件
- 系列：74BCT
- 零件狀態(tài)：有源
- 邏輯類型：掃描測試設(shè)備，帶 D 型鎖存器
- 供電電壓：4.5V ~ 5.5V
- 位數(shù)：8
- 工作溫度：0°C ~ 70°C
- 安裝類型：表面貼裝型
- 產(chǎn)品封裝：24-SOIC（0.295，7.50mm 寬）
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