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中科院：EDA驗(yàn)證評(píng)價(jià)技術(shù)

（2025年7月16日更新）

針對(duì)國(guó)產(chǎn)EDA基于國(guó)內(nèi)工具應(yīng)用推廣的平臺(tái)共性技術(shù)問(wèn)題EDA工具先進(jìn)工藝設(shè)計(jì)參考流程及關(guān)鍵EDA包括工具技術(shù)包括EDA工具的功能能比較、性能測(cè)試、兼容性、穩(wěn)定性、易用性等進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證，形成EDA為了促進(jìn)國(guó)內(nèi)工具評(píng)估報(bào)告EDA改進(jìn)、更新和改進(jìn)工具，并指導(dǎo)設(shè)計(jì)企業(yè)選擇合適的EDA完成芯片設(shè)計(jì)的工具。本研究?jī)?nèi)容獲得北京科技計(jì)劃項(xiàng)目國(guó)產(chǎn)EDA支持工具產(chǎn)業(yè)鏈應(yīng)用推廣示范平臺(tái)項(xiàng)目。

芯片采購(gòu)網(wǎng)專注于整合國(guó)內(nèi)外授權(quán)IC代理商現(xiàn)貨資源，芯片庫(kù)存實(shí)時(shí)查詢，行業(yè)價(jià)格合理，采購(gòu)方便Realtek代理IC芯片，國(guó)內(nèi)專業(yè)芯片采購(gòu)平臺(tái)。

基于全定制設(shè)計(jì)流程的全定制設(shè)計(jì)流程EDA評(píng)價(jià)技術(shù):納米工藝全定制設(shè)計(jì)流程系列EDA工具開(kāi)展EDA評(píng)價(jià)技術(shù)研究，形成測(cè)試報(bào)告反饋工具研發(fā)單位，有效促進(jìn)EDA改進(jìn)、更新和改進(jìn)工具。

基于電路模擬過(guò)程EDA評(píng)價(jià)技術(shù)：通過(guò)PLL、操作放大器，SRAM一系列典型的電路設(shè)計(jì)，測(cè)試和分析電路系統(tǒng)模擬平臺(tái)的功能比較、數(shù)據(jù)兼容性、穩(wěn)定性、模擬速度和精度。支持模擬腳本的開(kāi)發(fā)，有效提高了電路模擬的效率。

基于先進(jìn)的物理分析過(guò)程EDA評(píng)價(jià)技術(shù)：通過(guò)研究芯片表面平整度對(duì)物理設(shè)計(jì)規(guī)則檢查的影響，優(yōu)化物理驗(yàn)證和分析過(guò)程，幫助地圖設(shè)計(jì)工程師快速定位地圖設(shè)計(jì)錯(cuò)誤，加快芯片的物理驗(yàn)證。